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SPM (扫描探针显微镜)的信号处理 |
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以 STM (扫描隧道显微镜) 和 AFM (原子力显微镜)为代表的扫描探针显微镜使用纳米级的探针在样本表面上扫描，检测探针与样本之间的信号.观察样本表面的电子状态和结构，物理及化学性质。
锁相放大器用于控制样本与探针的距离等.
如采用 LI5600系列，不仅支持 MHz 量程的高谐波频率, 还可通过缩小时间常数 (从 1 μs)实现高速扫描，并可短时间内形成图像.
另外，通过同步滤波器，大幅降低相位检波输出的波动，不仅提高速度，还有助于实现高画质.
除STM和ATM，锁相放大器还应用于 KFM (表面电位显微镜)的调制信号解调等信号处理. |
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透光量的测量 (光源波动的消除) |
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如并用双频同时测量和分数谐波测量的功能，则1台 LI5660/ LI5655/LI5650就可进行双光束法(比例测量)的光源等的波动校正.
通过基准单元的信号施加负反馈，还可实现光源强度的稳定化.
可设定参照信号的整数倍(n x), 整数分之一 (1/m x)，分数比 (n/m x) ，因此可灵活对应光调制的频率比。另外，在整数比的情况下，与信号失真引起的谐波分量无法区别，而采用分数比就不受到谐波的影响.
并采用10 MHz同步功能与外部的信号发生器保持同步后，还可进行采用任意2个频率的检测. |
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霍尔系数的测量 (差频的测量) |
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霍尔电压与2种信号(电流与磁场)之积成正比,其频率为2种信号之差 (或和)频率.使产生电流和磁场的外部信号源 LI5600系列在外部 10 MHz下同步，针对任意不同的两个频率，即使没有外部参照信号 (差频)，也可进行差频信号的测量 (如使用双通道输出和频率基准输出的信号发生器等)
如果原有的频率为整数*比,则还可利用分数谐波测量功能进行差频信号的测量。并且，都可以避免由于外部参照信号而造成的串扰. |
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其它应用 |
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